AFM Atomkraftmikroskop ICSPI nGauge

Im Laufe von fast 10 Jahren Forschung und Entwicklung an der University of Waterloo hat ICSPI Corp. alle Komponenten eines normalen AFM auf einem einzigen 1 mm x 1 mm Siliziumchip unter Verwendung des patentierten MEMS-Technologie (Micro-Electro-Mechanical Systems) integriert.

Der Chip verfügt über einen integrierten piezoresistiven Sensor sowie vertikale und laterale Aktuatoren, wodurch er selbst steuernd und selbst erfassend ist. Das Ergebnis unserer Technologie ist das erste Atomkraftmikroskop oder auch Rasterkraftmikroskop-on-a-Chip: Das nGauge AFM.

Infos / Datenblatt

3D-Bilder im Nanomaßstab mit nur 3 Klicks

  • Selbsttest (Sweep), Probenerfassung (Approach) und Abtasten der Oberfläche (Scan)

  • Einfachste System- und Probenvorbereitung

  • Der automatische „One-Click“-Ansatz bringt die Spitze in Sekundenschnelle zur Probe

  • Laserlos – daher keine Laserausrichtung notwendig

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